Máy phân tích huỳnh quang tia X cầm tay (không phá hủy) OLYMPUS VLW-CXC-A1-J-JA

Vật liệu có thể được phân tích mà không phá hủy đối tượng.
Phân tích nguyên tố có độ chính xác cao có thể được thực hiện trong thời gian ngắn (khoảng 5 giây đối với thép không gỉ).
Kích thước (mm): 83 x 289 x 242
Trọng lượng (kg): 1,7
Đối tượng đo: rắn, lỏng, bột
Các nguyên tố đo được: Mg ・ Al ・ Si ・ P ・ S ・ Ti ・ V ・ Cr ・ Mn ・ Fe ・ Co ・ Ni ・ Cu ・ Zn ・ Zr ・ Nb ・ Mo ・ Pd ・ Ag ・ Cd ・ Sn ・ Sb ・ Hf ・ 28 các loại Ta, W, Re, Pb và Bi
Số loại thép có thể được xác định: khoảng 500 loại (nhôm, thép không gỉ, niken, đồng, v.v.)
Màn hình: Màn hình LCD 800 x 480 (WVGA)
Hiệu suất chống bụi và chống thấm nước: tuân thủ IP65
Lưu trữ dữ liệu: Tích hợp bộ nhớ 4GB (được trang bị khe cắm thẻ nhớ mở rộng microSD)
Nguồn cung cấp: pin lithium-ion 14,4V (bao gồm để thử nghiệm) hoặc bộ đổi nguồn AC (AC100-240V 50 / 60Hz)
Cổng USB: Tương thích USB 2.0 loại A (x 2), cổng loại B (x 1)